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膜厚計

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  • 膜厚計EMK
    メーカー:
    サンコウ電子
    型式:
    SWT-9000F
    測定原理:
    電磁誘導式
    測定対象物:
    塗装・ライニング・メッキ・塗装一般の非磁性金属上の絶縁性被膜
    測定範囲(mm):
    0〜2.50
    測定精度①:
    均一面に対して0μm〜100μm:±1μm又は指示値の±2%
    測定精度②:
    101μm〜2.50mm:±2%以内
    プローブ:
    1点定圧接触式
    電源:
    単3乾電池2本
    全長(mm):
    156
    全幅(mm):
    72
    全高(mm):
    30
    質量(g):
    270
  • 膜厚計 渦電流式EMKU
    メーカー:
    サンコウ電子
    型式:
    SWT-9000N
    測定方式:
    渦電流式
    測定対象物:
    ステンレス、アルミ、銅など非磁性鉄金属素地の絶縁性皮膜等
    測定範囲(mm):
    0〜2.0
    表示分解能①:
    1um:0〜999um 切替により0.1um:0〜400um
    表示分解能②:
    0.5um:400〜500um
    表示分解能③:
    0.01mm:1.00〜2.00mm
    測定精度 平滑面に対して垂直に測定:
    0〜100um:±1um または指示値の±2%以内
    プローブ①:
    1点定圧接触式、Vカット付/2.0:φ13×47mm
    プローブ②:
    2.0L:18×23×67mm
    表示方式(%):
    グラフィックLCD(データ/メッセージ)、バックライト機能付
    検量線メモリ:
    鉄・非鉄用で各1本
    付加機能①:
    バックライト付/測定モードの切替(ホールド/連続)
    付加機能②:
    検量線 校正値消去/オートパワーオフ(約3分、オフ機能付)
    電源:
    単3乾電池×2
    使用温度(℃):
    0〜40(非結露)
    全長(mm):
    156
    全幅(mm):
    72
    全高(mm):
    30
    質量(kg):
    0.21
    本体:測定範囲:
    ー
    本体:測定値メモリー(点):
    ー
    測定精度 平滑面に対して垂直に測定2:
    ー
  • 膜厚計 電磁式・渦電流式(両用)EMKDU
    メーカー:
    サンコウ電子研究所
    型式:
    SWT-9200FN
    表示方式:
    グラフィックLCD(データ･メッセージ)、バックライト機能付
    検量線校正(CAL):
    2点校正式(ゼロ点/標準調整点)
    電源①:
    3V DC単3アルカリ乾電池×2本
    電源②:
    連続使用時間:25時間
    電源③:
    専用ACアダプター
    データ格納:
    最大20000データ
    使用温度(℃):
    0〜40(非結露)
    全長(mm):
    72
    全幅(mm):
    32
    全高(mm):
    156
    質量 電池含む(kg):
    約0.2
    プローブ 測定方式:
    電磁誘導式・渦電流式両用(鉄・非鉄素地自動判別)
    測定範囲(mm):
    鉄素地:0〜3.00/非鉄素地:0〜2.50
    表示分解能①(μm):
    1/0〜999
    表示分解能②(mm):
    鉄素地{0.01/1.00〜3.00}
    表示分解能③(mm):
    非鉄素地{0.01/1.00〜2.50}
    測定精度① 平滑面に対し:
    0〜100μm:±1μmまたは指示値の±2%以内
    測定精度② 平滑面に対し:
    鉄素地{101μm〜3.00mm:指示値の±2%以内}
    測定精度③ 平滑面に対し:
    非鉄素地{101μm〜2.50mm:指示値の±2%以内}
    プローブ:
    1点定圧接触式/Vカット付/φ15×50.9mm
    測定対象①:
    鉄素地{鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装、ライニング、
    測定対象②:
    溶射膜、メッキ(電解ニッケルメッキを除く)など}
    測定対象③:
    非鉄素地{アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など
    測定対象④:
    比較的汎用な測定物用}